出版AOI
設(shè)備特點
· 精準數(shù)控式組合光源，千萬像素級工業(yè)CCD及鏡頭
· 設(shè)備小巧、系統(tǒng)穩(wěn)定、操作簡單，具有和邁為、科隆威、捷佳創(chuàng)等印刷廠商配套經(jīng)驗
· 在線式檢測，可與產(chǎn)線MES無縫連接
· 非接觸式光學AOI檢測，可以快速且可靠地檢測出更類印刷異常，第一時間發(fā)現(xiàn)網(wǎng)板或者漿料等設(shè)備定位的問題，避免出現(xiàn)批量電池片印刷降級
· 采用多等級檢測結(jié)果處理條件，可針對不同的檢測項目設(shè)置不同的處理，報警提示或停機處理
| 項目 | 規(guī)格 |
適用Wafer尺寸 | 156*156mm- 170*170mm |
| 適用Wafer類型 | 單晶、多晶，金剛線單晶、多晶，PERC電池片 |
| 最高產(chǎn)能 | 3800PCS/小時 |
| 像素精度 | <0.047mm |
檢測缺陷精 | <0.09mm |
| UPTime | >98% |
| 誤判率 | <1% |
漏報率 | <0.1% |
設(shè)備外觀&安裝圖
成像效果
